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光譜儀能不能做鍍層分析？
發(fā)布時(shí)間：2020-12-10 09:41:43 點(diǎn)擊：6363
直讀光譜儀可以對(duì)鍍層成分識(shí)別進(jìn)行分析，分析其金屬鍍層的成分含量。使用激發(fā)電極對(duì)準(zhǔn)樣品檢測(cè)，然后多檢測(cè)幾個(gè)點(diǎn)，30秒一個(gè)點(diǎn)測(cè)試，最后直接把檢測(cè)結(jié)果打印內(nèi)含元素含量，是一種定性也定量的檢測(cè)。
創(chuàng)想鍍層厚度熒光光譜儀
鍍層成分識(shí)別在化學(xué)分析等領(lǐng)域具有應(yīng)用價(jià)值。通過成分識(shí)別，定性或定量分析鍍層中包含的元素，可以為鍍液配方改進(jìn)和電鍍工藝優(yōu)化提供參考依據(jù)。
除了直讀光譜儀元素分析，熒光光譜儀也有專業(yè)的鍍層厚度檢測(cè)設(shè)備已經(jīng)鍍層元素檢測(cè)，相較于直讀光譜儀，熒光光譜儀屬于無損檢測(cè)方式。鍍層的厚度與成分含量有很大的關(guān)系，所以可以運(yùn)用熒光進(jìn)行厚度測(cè)量。熒光也可以檢測(cè)元素含量，應(yīng)用頗多。
除了上面兩種常見的檢測(cè)方式以外，還有很多檢測(cè)方法，Y射線識(shí)別法，粒子檢測(cè)法和磁性檢測(cè)法等，這些方法或多或少存在缺陷。
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